課程描述INTRODUCTION
產(chǎn)品測試培訓
· 測試經(jīng)理· 系統(tǒng)工程師· 技術(shù)主管
日程安排SCHEDULE
課程大綱Syllabus
產(chǎn)品測試培訓
培訓收益:
在產(chǎn)品設(shè)計階段,可以對產(chǎn)品設(shè)計原型進行虛擬測試,驗證設(shè)計方案,排除可能的設(shè)計缺陷;在生產(chǎn)階段,可以對產(chǎn)品進行全面的測試,排除產(chǎn)品的潛在故障,從而降低使用過程中的故障率,提高產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。另一方面,可測試性技術(shù)可以縮短新產(chǎn)品的研制、試驗和評價的周期,降低產(chǎn)品的研制費用,不僅如此,還可以提高產(chǎn)品的可用性、可維護性等指標,減少用于這些方面的費用,從而降低了產(chǎn)品的全壽命周期費用。
1.能夠合理選擇硬件測試項目和試驗方法
2.免費得到以下資料:本課程電子課件;各種家電測試手冊;電影:PCB測試、分析及維修技術(shù);電影:電子組件電測試技術(shù)。
培訓特色:內(nèi)容:經(jīng)驗、技巧、新穎、實用、深入、全面。方式:全程案例教學,看圖說話,言傳心授。特點:有圖有真相,通俗易懂。效果:立竿見影。
課程對象:從事電子產(chǎn)品測試、設(shè)計、制造、試驗和管理的技術(shù)工程師及相關(guān)負責人;從事PCB設(shè)計、EMC、PI、SI等技術(shù)工程師及相關(guān)負責人;航天及軍工、科研院所相關(guān)負責人員等等;
課程提綱:以實務為重點,解析大量實例,培養(yǎng)學員分析、解決實際問題的能力。講課內(nèi)容屆時根據(jù)實際情況會有所調(diào)整。
1、硬件測試概述
硬件測試目的、測試需求的來源;測試的基本原則;硬件測試種類、硬件測試流程技術(shù);
2、硬件測試準備技術(shù)
FMEA(故障模式影響分析)、測試計劃;硬件可測試性設(shè)計、內(nèi)涵;產(chǎn)品可測試性設(shè)計的必要性;PCB可測試性的條件、一般要求、策略、影響PCB測試策略的參數(shù);在線測試對印制電路板設(shè)計的要求、板的尺寸和節(jié)點數(shù);DFT規(guī)則的使用、遵守或理解;測試點的可訪問性、設(shè)置準則、尺寸要求;測試焊盤的尺寸、定位孔要求、器件特殊引腳的處理;功能測試方面的可測性設(shè)計要求;PCB可測試性的關(guān)鍵技術(shù)及發(fā)展;Ad-hoc測試、掃描技術(shù);內(nèi)建自測技術(shù)(BIST)、幾種可測試性技術(shù)比較、測試的安全措施;
3、PCA工藝測試技術(shù)
PCB測試、再流焊實時溫度曲線測試技術(shù);PCB的測試方法;手工視覺、X-Ray測試;自動光學檢查(AOI)、飛針測試機、ICT測試機、電路板故障檢測儀;
4、PCA電氣測試技術(shù)
低頻電路測試技術(shù)、各種元器件特性曲線;測試高速電路測試技術(shù)、SI分析、信號完整性的仿真、示波器的使用、數(shù)字示波器探頭選用;傳輸線特性阻抗、集總式電路特性測試技術(shù);信號質(zhì)量測試:信號質(zhì)量測試方法、硬件信號質(zhì)量測試案例;驅(qū)動器電源噪聲串擾導致數(shù)據(jù)線毛刺、過沖和毛刺使FLASH芯片工作異常、損壞率高;信號時序測試:信號時序測試條件、測試覆蓋范圍、測試參數(shù)、測試過程;時序測試案例;信號時序緊張,造成誤碼嚴重容差、容錯定量測試(操作容限測試)、附加噪聲、調(diào)節(jié)寬總線上的定時;通過同軸電纜延時調(diào)節(jié)時鐘、通過脈沖發(fā)生器調(diào)節(jié)時鐘;用于時鐘相位調(diào)節(jié)的簡單電路、用鎖相環(huán)調(diào)節(jié)時鐘;通過改變電壓調(diào)節(jié)時鐘;供電、溫度、數(shù)據(jù)吞吐量、硬件測試自動化技術(shù);射頻電路測試技術(shù);
5、硬件安全測試技術(shù)
防電擊、電氣間隙和爬電距離測試;介電強度、供電電源的斷開試驗;產(chǎn)品防機械危險檢驗;產(chǎn)品耐機械沖擊、撞擊試驗;設(shè)備溫度限制和防止火的蔓延、耐熱試驗、元器件、開關(guān)電源安規(guī)測試;小功率電動機檢測、鋰離子電池安全性;
6.環(huán)境適應性測試技術(shù)
7、整機EMC測試技術(shù)
電磁兼容試驗的原則;EMC測試設(shè)備;EMI試驗技術(shù);電源端傳導騷擾測量、負載端和控制端傳導騷擾電壓測試;電信端口騷擾的測量、斷續(xù)騷擾click試驗技術(shù);騷擾功率測量、輻射騷擾測量技術(shù)、測試項目和設(shè)備工程案例;EMS試驗技術(shù)、抗擾度測試的內(nèi)容;連續(xù)波傳導、輻射試驗;傳導瞬時(叢訊)試驗法;雷擊浪涌的抗擾度、電壓暫降和短時中斷、靜電放電抗騷擾試驗;
8、硬件測試管理技術(shù)
產(chǎn)品測試組織:測試問題的解決、確認、定位、反饋方式和流程、跟蹤和解決流程;測試效果評估:測試度量指標、評審、經(jīng)驗總結(jié)的形式、遺留問題處理、市場規(guī)模應用跟蹤、產(chǎn)品故障率統(tǒng)計;測試文件管理:測試用例、報告、規(guī)范制定;需要哪些規(guī)范、規(guī)范的制定準則;測試人員的等級認證;
9、綜合案例
開關(guān)電源、DC-DC電源內(nèi)部、光模塊內(nèi)部、手機硬件測試;測試用例;計算機硬件測試、網(wǎng)絡系統(tǒng)硬件測試技術(shù)、狀態(tài)監(jiān)測;汽車電控系統(tǒng)自診斷;
授課教師
周老師:英國Waynekerr電子儀器公司技術(shù)顧問、Emerson公司產(chǎn)品評審專家、*GersonLehrman集團專家、電子行業(yè)資深教授、大學博士;早年于西門子公司設(shè)計數(shù)控系統(tǒng)7年,后一直從事電子設(shè)備可靠性設(shè)計、電磁兼容設(shè)計、電子設(shè)備結(jié)構(gòu)設(shè)計、熱設(shè)計、防腐蝕設(shè)計、防振設(shè)計、電子設(shè)備制造工藝設(shè)計、靜電防護體系建設(shè)、電子產(chǎn)品認證等方面的研究,從業(yè)30余年經(jīng)驗;出版專業(yè)著作8部,包括《電子設(shè)備結(jié)構(gòu)與工藝》、《電子設(shè)備防干擾原理與技術(shù)》、《現(xiàn)代傳感器技術(shù)》、《數(shù)控機床實用技術(shù)》、《現(xiàn)代電子設(shè)備設(shè)計制造手冊》、《電磁兼容基礎(chǔ)及工程應用》、《家用電器實用技術(shù)》等,部分著作多次印刷發(fā)行;待出版的專業(yè)著作有《印制電路板設(shè)計制造技術(shù)》并應一些單位的要求,編寫了企業(yè)內(nèi)部規(guī)范等等;多次去國外進行產(chǎn)品設(shè)計評審并主持完成我國省部級科研課題多項,在中國工程院院刊等核心期刊發(fā)表學術(shù)論文40多篇,多篇被EI收錄。
產(chǎn)品測試培訓
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